Estudos de caso na indústria de fabricação de semicondutores e eletrônicos

Na Ensinger, trabalhamos em diversos projetos com uma ampla variedade de materiais na indústria de fabricação de semicondutores e eletrônicos. Leia sobre alguns dos projetos que concluímos aqui.

Anel de fixação do wafer

fabricado em TECATRON SX natural

Anel de fixação de wafer de processo úmido

Os anéis de fixação de wafer são comumente usados durante o processo de fabricação de semicondutores para apoiar e posicionar com precisão o wafer. Os anéis de fixação devem oferecer alta resistência, estabilidade dimensional e resistência ao desgaste para manter as tolerâncias precisas de processamento e garantir um alto rendimento do wafer. A Ensinger oferece um amplo portfólio de soluções de materiais para anéis de fixação, incluindo a série SX, que apresenta a mais ampla gama de dimensões de tubos PEEK e PPS do setor.

Dispositivo de inspeção de PCB

fabricado em TECATRON SX natural

Dispositivo de inspeção de PCB

As placas de circuito impresso (PCBs) devem ser submetidas a testes abrangentes durante o processo de fabricação para verificar sua funcionalidade adequada. O dispositivo de inspeção de PCB consiste em folhas de plástico que incluem uma matriz de pregos de passo fino que é pressionada contra a PCB. O TECATRON SX natural é um material comumente usado para as chapas devido à sua excelente estabilidade dimensional, limpeza óptica e usinabilidade de microfuros.

Anel de retenção CMP

fabricado em TECATRON CMP

Como atender aos inúmeros requisitos do processo de CMP

O anel de retenção é um componente crucial do processo de CMP, pois mantém o wafer sob o suporte durante o polimento e facilita a remoção uniforme do material. A seleção do material correto do anel é fundamental, pois afeta a eficiência do processo CMP e o nível de defeitos no nível do wafer. Esse estudo experimental demonstra como o TECATRON CMP natural pode reduzir o número de matrizes defeituosas e melhorar o rendimento.

Peça de blindagem para gravação a plasma

fabricado em TECASINT

Excelente resistência à temperatura e ao plasma

Os processos de fabricação de semicondutores, como a gravação por plasma ou o CVD aprimorado por plasma, expõem os wafers e os componentes adjacentes a um plasma altamente energético e corrosivo. As peças nesses equipamentos de processamento devem suportar temperaturas acima de 250 °C e proporcionar alta pureza iônica e baixa liberação de gases. A série TECASINT 4000 é um material comumente usado nessas aplicações devido à sua excelente resistência a temperatura e plasma, bem como à limpeza iônica superior.

Soquete de teste de CI

fabricado em TECASINT 4011

Soquetes de teste de CI de alta temperatura

Durante o processo de fabricação de microchips, os circuitos integrados (ICs) são submetidos a testes em vários estágios para verificar sua funcionalidade em diferentes condições ambientais. O equipamento de teste, incluindo os soquetes de teste, também deve suportar condições severas de teste, incluindo temperaturas superiores a 200 °C. Para essas aplicações, a série TECASINT 4000 é a escolha ideal, pois oferece alta estabilidade dimensional e mecânica em altas temperaturas, além de excelente microusinabilidade.

Suporte de wafer

fabricado em TECAPEEK SX natural

Suporte para wafer em bancada úmida

As ferramentas de processo úmido usadas na fabricação de semicondutores utilizam várias peças plásticas, inclusive o suporte de wafer de bancada úmida, que deve resistir a combinações severas de produtos químicos usados para processar e limpar os wafers. Como o suporte de wafer mergulha vários wafers em diversos banhos de processamento químico, ele deve ser fabricado com materiais de alta resistência química, além de rigidez e estabilidade dimensional. O TECAPEEK SX natural é uma excelente opção de material que atende a esses requisitos e também oferece conformidade exata de cópia para maior confiabilidade.

Dispositivo de teste de conector FPC

fabricado em TECAPEEK CMF white

Dispositivo de teste para conectores FPC de smartphones

Os circuitos impressos flexíveis (FPC) estão se tornando cada vez mais complexos e miniaturizados. Com o espaçamento de passo dos contatos do conector FPC diminuindo continuamente, os dispositivos de teste funcional devem ser fabricados com sondas de contato que tenham um espaçamento de passo igualmente pequeno. A série TECAPEEK CMF foi projetada para oferecer excelente usinabilidade de microfuros e estabilidade dimensional, tornando-a um material ideal para a próxima geração de dispositivos de teste de conectores FPC.